基本信息
标准名称: | 非本征半导体材料导电类型测试方法 |
英文名称: | STANDARD methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials |
中标分类: | 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法 |
ICS分类: | 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料试验综合 |
替代情况: | GB 1550-1979 GB 5256-1985 |
发布部门: | 国家技术监督局 |
发布日期: | 1997-06-03 |
实施日期: | 1997-01-02 |
首发日期: | 1979-05-26 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 国家标准化管理委员会 |
归口单位: | 全国半导体材料和设备标准化技术委员会 |
起草单位: | 峨嵋半导体材料厂 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2004-04-01 |
页数: | 平装16开, 页数:11, 字数:16千字 |
书号: | 155066.1-14168 |
适用范围
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测定方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定,其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果,对于非均匀试样,可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样,如外延片的导电类型的测定。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法 冶金 金属材料试验 金属材料试验综合